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来源：碳化硅芯观察收集编辑：
会议PPT来源：2023新型功率器件参数检测、可靠性及失效分析研讨会
高远 现任泰科天润应用测试中心总监。中国电工技术学会电力电子专业委员会高级会员及青年工程师工作组委员，第三代半导体产业技术创新战略联盟产业导师，泰克科技电源功率器件领域外部专家。2008年保送进入西安交通大学钱学森实验班，2012年和2015年于西安交通大学分别获得电气工程专业学士和硕士学位。毕业后加入台达电子从事未来先进电源技术研发工作。主要从事功率半导体器件的特性测试、评估及应用的关键技术研究工作，致力于推进功率半导体器件教育在高等学校普及和推广先进功率器件在工业界应用。发表学术论文8篇，授权专利4项，出版专著《碳化硅功率器件：特性、测试和应用技术》，收录于机械工业出版社“电力电子新技术系列图书”和“半导体与集成电路关键技术丛书”，并列入“十四五”国家重点出版物。*免责声明：本文由作者原创。文章内容系作者个人观点，InSemi转载仅为了传达观点，仅代表InSemi对该观点赞同或支持，如果有任何异议，欢迎InSemi。