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以亚埃米分辨率对分子筛等多孔材料成像是理解多孔材料在离子交换、分子吸附/分离、催化等应用的结构-性质关系。
有鉴于此，清华大学李亚栋院士、于荣等报道通过电子叠层衍射成像技术对厚度为100 nm的样品实现对分子筛进行亚埃米精度的原子结构表征，对直行通道的横截面和不同深度的变形情况成像，展示了分子筛的三维结构不均匀和柔性。
本文要点
要点1. 由于大多数工业应用场景使用的分子筛厚度为数十-数百纳米，因此这种亚埃米精度分辨率的分子筛成像能够使用低剂量电子实现精确的表征不同深度的结构变化情况，因此能够表征多孔材料在接近工业催化反应环境场景有广泛应用。
要点2. 通过理论模拟和实验表征，说明电子叠层衍射技术是一种研究束线敏感材料的好方法，对电子残余相差和晶体取向的变化非常灵敏。
Haozhi Sha, Jizhe Cui, Jialu Li, Yuxuan Zhang, Wenfeng Yang, Yadong Li*, Rong Yu*, Ptychographic measurements of varying size and shape along zeolite channels, Science Advances 2023, 9 (11),
DOI: 10.1126/sciadv.adf1151
https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.adf1151
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