▲第一作者：刘健 通讯作者：杨波，刘志 通讯单位：上海科技大学 论文DOI：10.1021/acs.jpclett.2c03099 01 全文速览 近期，上海科技大学杨波教授团队联合刘志教授团队，在分子层次上研究了气液界面上的光电子能谱（XPS）发生分裂的机制，为基于XPS的界面处的分子结构解析提供了深入理解。论文以Origin of the Liquid/Gaseous Water Binding Energy Splitting Measured via X‐ray Photoelectron Spectroscopy为题在J. Phys. Chem. Lett发表。
02 背景介绍 文献中的若干测量结果表明，液体中水分子的 O 1s 芯能级结合能相比气态中低约1.3到2.8 eV，在XPS实验中表现为谱峰发生分裂，但结合能偏移的准确值并无定论。实验上存在多个因素都会导致对该值测量产生误差，而这些实验采用的装置和测量条件各不相同，导致测量的结果彼此之间偏差很大。目前对于液相中尤其是气液界面的水分子结合能的偏移也没有深入的理论探究。XPS是探究分子结构和局域电势的有力工具，准确理解和预测该结合能的偏移量对于认识液相和界面的结构、拓展XPS的应用领域非常重要。