利扬芯片：短报文芯片测试方案研发成功

科技 09-05 来源： 财联社

【利扬芯片：短报文芯片测试方案研发成功】财联社9月5日电，利扬芯片公告，近期已完成全球首颗北斗短报文SoC芯片的测试方案开发并进入量产阶段，公司为该芯片独家提供晶圆级测试服务。

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